Actel的RTAX-S
再创重要的可靠性里程碑
Actel最近公布其RTAX-S抗辐射FPGA产品完成了累计140万器件小时的长久可靠性测试，失效率 (FIT) 指标为12.76。
FIT值是度量产品可靠性的基准；一个FIT被定义为10亿个器件操作小时中出现一次故障。RTAX-S系列有如此低的FIT值说明这个 FPGA产品非常可靠。
在可靠性测试过程中，共使用了120个RTAX-S FPGA器件，每个都完成了6,000小时的高温工作寿命测试 (HTOL)。查询详细的测试情况，请参考：RTAX-S Testing Reliability Update。
Actel的RTAX-S系列FPGA专为耐辐射航天应用的恶劣条件而设计。该耐辐射系列产品具有多种独特功能，如采用内置三重模块冗余技术 (TMR) 的抗单事件干扰 (SEU) 触发器、使用方便且具纠错功能的300 kbits片上存储器和大量用户I/O接口，非常适合于航天应用。该系列还包括门密度达400万的RTAX4000S产品，是业界最大专为太空应用而优化的可编程逻辑器件。
用于可编程器件的DO-254认证
软/硬件验证平台
美国联邦航空局采纳的DO-254/EU80 (航空电子硬件设计安全指引) 规范为开发"安全的"航空电子硬件提供设计指引，包括应用在飞行器上的FPGA。
Actel和Aldec推出业界首个简化DO-254认证工作的软/硬件验证平台，能缓解设计保证过程中验证环节的瓶颈问题。该验证平台包括采集和比较仿真数据的软件工具，配有完整的经验数据，以及针对DO-254认证过程的功能验证阶段而定制的板卡。
Actel的协议设计服务部为那些采用FPGA设计来配合DO-254标准的航天应用系统的客户，提供设计和验证服务及解决方案。Actel 和Aldec 新推出的验证平台结合Actel在DO-254协议设计和流程方面的专业知识，将有助于保障航空设计系统的航空品质要求和安全性要求。
